资讯池
拓斯达在光博会展出光芯片测试装备
日期: 2026-09-11 22:18来源: 财联社域名: finance.eastmoney.com
溯源
重要性：背景级 · 53·对象槽：unmatched·对象关系：sector_transmission·影响对象：sector:芯片·来源/栏目：东方财富·抓取时间：2026-09-11 22:18:02·信任分层：优先源
财联社记者获悉， 拓斯达 参股公司来勒光电在第27届光博会（CIOE 2026）上首次展出专为激光器芯片量产测试打造的“CHIP TEST芯片测试系统”。据悉，设备可一站式完成芯片光电性能、光谱、发散角等全维度测试，适配DFB、EML等主流芯片品类